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　　接下来，我们为您带来对于滨颁笔-础贰厂在面对各种干扰的解决方法。

　　1、影响等离子体温度的因素有：

　　①载气流量：流量增大，中心部位温度下降;

　　②载气的压力：激发温度随载气压力的降低而增加;

　　③频率和输入功率：激发温度随功率增大而增高，近似线性关系，在其他条件相同时，增加频率，放电温度降低;

　　④第叁元素的影响：引入低电离电位的释放剂的等离子体，电子温度将增加。

　　2、电离干扰的消除和抑制：

　　原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少，因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上，从而抑制或消除分析元素的电离。此外，由于温度愈高，电离度愈大，因此，降低温度也可减少电离干扰。

　　3、试剂酸度对滨颁笔-础贰厂法的干扰效应主要表现在哪些方面?

　　提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液;随着酸度增加，谱线强度显著降低;各种无机酸的影响并不相同，按下列顺序递增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。所以在ICP测试中，应尽量的避免使用H3PO4 H2SO4作为介质进行狭缝校正。

　　4、滨颁笔-础贰厂法中的光谱干扰主要存在的类型：

　　谱线干扰;谱带系对分析谱线的干扰;连续背景对分析谱线的干扰;杂散光引起的干扰;基体干扰;抑制干扰等。对于谱线干扰，一般选择更换谱线，连续背景干扰一般用仪器自带的扣背景的方法消除，基体干扰一般基体区配或标准加入法，抑制干扰一般是分离或基体区配。

　　5、滨颁笔-础贰厂法分析中灵敏度漂移的校正：

　　在测定过程中，气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布;另外，毛细管阻塞、废液排泄不畅，会使溶液提升量和雾化效率受到影响;以及电压变化甚至环境温度等诸多因素都会使灵敏度发生漂移，其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样，并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。

　　6、滨颁笔分析中如何避免样品间的互相沾污?

　　测量时，不要依次测量浓度悬殊很大的样品，可把浓度相近的样品放在一起测定，测定样品之间，应用蒸馏水冲洗，进标准样品测试标准曲线时，应该从低标到高标仪次进样。

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